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  • DP058-JB-5.7L雙頭探針

    DP058-JB-5.7L雙頭探針

    產(chǎn)品型號:DP058-JB-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品介紹:探針外徑為0.58mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為圓頭,尖頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • 雙頭探針DP058-BU-6.3L

    雙頭探針DP058-BU-6.3L

    產(chǎn)品型號:DP058-BU-6.3L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品介紹:探針外徑為0.58mm,總長度為6.3mm、針的兩端的頭型為尖頭,爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • DP058-BJ-5.7L雙頭探針

    DP058-BJ-5.7L雙頭探針

    產(chǎn)品型號:DP058-BJ-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品介紹:探針外徑為0.58mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為尖頭,圓頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
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  • DP051-BU-6.3L雙頭探針

    DP051-BU-6.3L雙頭探針

    產(chǎn)品型號:DP051-BU-6.3L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品介紹:探針外徑為0.51mm,總長度為6.3mm、針的兩端的頭型為尖頭,爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
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  • DP051-BU-3.3L雙頭探針

    DP051-BU-3.3L雙頭探針

    產(chǎn)品型號:DP051-BU-3.3L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品介紹:探針外徑為0.51mm,總長度為3.3mm、針的兩端的頭型為尖頭,爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
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  • 雙頭探針DP048-BJ-8.1L

    雙頭探針DP048-BJ-8.1L

    產(chǎn)品型號:DP048-BJ-8.1L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品介紹:探針外徑為0.48mm,總長度為8.1mm、針的兩端的頭型為尖頭、圓頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • 雙頭探針DP038-JJ 5.7L

    雙頭探針DP038-JJ 5.7L

    產(chǎn)品型號:DP038-JJ-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.38mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為圓頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • 雙頭探針DP038-FJ 5.7L

    雙頭探針DP038-FJ 5.7L

    產(chǎn)品型號:DP038-FJ-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.38mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為爪頭,圓頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • 雙頭探針DP038-BF-5.7L

    雙頭探針DP038-BF-5.7L

    產(chǎn)品型號:DP038-BF-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.38mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為尖頭,爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • 雙頭探針DP038-BB-5.7L

    雙頭探針DP038-BB-5.7L

    產(chǎn)品型號:DP038-BB-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.38mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為尖頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測試探針進(jìn)行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
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關(guān)于測試探針常見的問題

關(guān)于測試探針常見的問題

以下是一些關(guān)于測試探針常見的問題:一、性能與準(zhǔn)確性方面1. 測量不準(zhǔn)確原因:探針的尖端可能會因磨損導(dǎo)致形狀變化,進(jìn)而影響與測試對象的接觸面積和接觸效果,使測量結(jié)果出現(xiàn)偏差;探針的尺寸和形狀若與被測物不匹配,也會在不同表面上產(chǎn)生不同的測試值;材料的性質(zhì)和制造工藝不佳,可能使探針在測試過程中表現(xiàn)不穩(wěn)定;外界環(huán)境因素如溫度、濕度、氣壓的變化,可能導(dǎo)致探針的材料性質(zhì)改變或影響其與測試樣品的接觸,造成測試誤差。解決方法:定期檢查和更換探針,確保其尖端的完整性和準(zhǔn)確性;根據(jù)被測物的特性選擇合適的探針尺寸和形狀,并在測試前對實驗樣品進(jìn)行適當(dāng)調(diào)整以適應(yīng)探針特性;選擇高質(zhì)量的探針材料和先進(jìn)的制造工藝,提高探針的穩(wěn)定性和可靠性;控制測試環(huán)境的溫度、濕度等條件,減少外界環(huán)境對測試結(jié)果的影響。2. 重復(fù)性差原因:除了上述影響測量準(zhǔn)確性

2025-02-21

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